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镀层测厚仪XF-P1


    XF-P1镀层测厚仪是西凡仪器针对镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器,内置双核CPU工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。

    P1-1.jpg

    一、镀层测厚仪XF-P1产品特点

    l元素检测范围:钾(No.19)~铀(No.92)          

    l可支持层检测

    l可同时支持镀层厚度和成分检测

    l检出限:5nm(厚度),5ppm(成分)

    l检测精度:相对误差±2.5%(镀层

    l定制TCP/IP协议API接口,支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集

    l遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B568标准。

    lXY平面微动平台,行程:30mm×30mm

    l铅玻璃窗口,方便观察样品



    二、镀层测厚仪XF-P1核心配件

    l探测器:AMPTEK定制版Si-PIN探测器

    面积:6mm2, 分辨率:145±5eV

    l内置工控电脑:Intel i3核+Win11系统

    l高压电源:50KV/1mA数字高压电源

    lX射线管:50KV/1mA

    n窗口材料:玻璃窗

    n靶材:钨

    n焦点:ϕ 0.3mm

    l准直器:ϕ 0.5mm / ϕ 1.0mm /ϕ1.5mm选配



三、镀层测厚仪XF-P1软件测试截图


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