XF-P1M镀层测厚仪是西凡仪器针对镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器，内置双核CPU工控电脑，运行Smart FP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。

一、镀层测厚仪XF-P1M产品特点

l元素检测范围：磷（No.15）～铀（No.92）          

l可支持四层检测

l可同时支持镀层厚度和成分检测

l检出限：2nm(厚度)，5ppm(成分)

l检测精度：相对误差±2.5%(镀层）

l定制TCP/IP协议API接口，支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集

l遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B568标准。

l三准直器,多滤光片自动切换

lXY平面微动平台，行程：30mm×30mm

l铅玻璃窗口，方便观察样品

二、镀层测厚仪XF-P1M核心部件

l探测器：AMPTEK定制版Si-PIN探测器

n面积：6mm2, 分辨率：145±5eV

l内置工控电脑：Intel i3双核+Win11系统

l高压电源：50KV/1mA数字高压电源

lX射线管：50KV/1mA

n窗口材料：铍窗；靶材：钨

n焦点：ϕ 0.1mm

l准直器：ϕ0.35mm/ϕ0.6mm/ϕ2mm