XF-S6贵金属检测仪是西凡仪器针对贵金属行业推出的一款旗舰X射线荧光光谱仪，支持贵金属成分检测、镀层厚度检测、液体浓度检测和RoHS检测，可广泛应用于珠宝首饰工厂、实验室、检测站和回收等行业和单位。该产品采用先进的进口定制Fast-SDD探测器，内置i5十二核工控电脑，采用X射线与可见光共焦点光路设计和全新的Smart FP算法。检测速度快，测试稳定性好、准确性高，适用范围广。

贵金属检测仪XF-S6产品特点

可支持*多30个元素同时计算

分析范围：贵金属：0.010%～99.999%；镀层厚度：4层，0.002微米～80微米；RoHS：1ppm~99.999%

检测精度：贵金属：±plusmn;0.01%(999金)；镀层：相对误差：±plusmn;1.5%(1微米厚度)；RoHS：1ppm(理想基体效应)

支持多点连续测试，测试效率高

双准直器，多滤光片自动切换

遵守GB/T16921，ISO3497：2000，ASTM-B658，IEC62321标准。

贵金属检测仪XF-S6产品规格

输入电压：AC100～240V，50Hz

产品包装尺寸：566mmx531mmx500mm

产品尺寸：450mmx422mmx378mm

样品舱尺寸：366mmx336mmx141mm

额定功率：180W

毛重：61KG（包含显示器、UPS等）

净重：39KG

噪音：50dB

使用环境：
温度：15℃～31℃
湿度：<70%（不结露）

贵金属检测仪XF-S6软件截图