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浅谈ROHS检测仪的分析原理
2018-11-17
作为立法制定*为严格的健康产品(Product)标准的一项强制性标准,ROHS检测仪是绝大多数企业所需求的,生活中的任何事物都有可能与它息息相关,然而人们是怎么通过ROHS检测仪器设备发现它的呢?
RoHS检测仪的分析原理:
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析事理也就是X射线荧光光谱仪的分析事理。ROHS分析仪确保无放射性,多种可选择的滤波器。可即时传送、读数,其主要部件是一根微小的X射线管和高分辩率探测器。从而确保分析检测质量,测试时间可在20秒内完成。
RoHS测试仪测试速度快,**度高,重复性好;开机无需预热,无需液氮制冷,运行成本低;全自动测试平台,操作简单;自动识别材料功能 ;测试结果清晰显示,PPM,光谱或波峰强度;检测多种材料:液体,固体,粉末,灰浆,过滤物,实核体,碎片,微粒与袋装的样品RoHS仪器在中华人民共和国境内生产、销售和进口电子信息产品过程中控制和减少电子信息产品对环境造成污染及产生其它公害,适用本办法。但是,出口产品的生产除外。
RoHS检测仪也隶属于
X射线荧光光谱仪,
X射线荧光光谱仪常日可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪。
波长色散光谱仪紧张部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等,而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和干系电子与控制部件,相对大略。 波长色散X射线荧光光谱仪利用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,颠末进程测定角度,即可获得待测元素的谱线波长: λ=2dsinaθ式中,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以或许或许或许或许测得分析谱线的衍射角,利用上式可以或许或许或许或许打算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特征信息。能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,颠末进程测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:Q=kE 式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的相应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故颠末进程测定电荷量可获得待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源紧张有射线光管和同位素激发源等。为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技能,并对获得的强度结束干系的谱分析和数据处理。
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{pboot:sort scode=15}
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{pboot:sort scode=12}